- 在真空下将七个过程技术集成在一个系统中,在真空中互连抵抗
- 新材料工程方法提高芯片性能并降低功耗
- 最新系统举例说明应用程序的策略是为客户提供PPACT Enablement Company™
虽然尺寸减小效益晶体管性能,但在互连布线中相反:较小的电线具有更大的电阻,从而降低性能并提高功耗。在没有材料工程突破的情况下,通过电阻互连将从7nm节点到3nm节点增加10个因子,否定了晶体管缩放的益处。
“智能手机芯片具有数十亿的铜互连,并且布线已经消耗了芯片的三分之一,”说
现在正在全球领先的铸造逻辑客户使用Endura铜屏障籽IMS系统。有关系统和逻辑缩放的其他创新的其他信息将在Applipp的情况下讨论2021逻辑
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应用材料' Endura®Copper屏障SEED IMS™系统
应用材料的新endura®铜屏障SEED IMS™在高真空下在一个系统中结合了七种不同的工艺技术,以提高芯片性能和功耗。可以在此处查看流程序列的动画:https://bit.ly/3g8hme1.。
资料来源:应用材料,Inc。