- 在真空下将七个过程技术集成在一个系统中,在真空中互连抵抗
- 新材料工程方法提高芯片性能,降低功耗
- 最新的系统体现了应用公司为客户提供PPACt实施公司的战略
虽然缩小尺寸有利于晶体管的性能,但在互连布线中则相反:较小的电线有更大的电阻,这降低了性能并增加了功耗。如果没有材料工程上的突破,通过电阻互连将从7纳米节点增加到3纳米节点的10倍,从而抵消了晶体管缩放的好处。
“一个智能手机芯片有数百亿的铜互连,布线已经消耗了芯片三分之一的电力,”他说
Endura Copper Barrier Seed IMS系统目前正在被全球领先的铸造逻辑客户使用。关于该系统和其他逻辑扩展创新的更多信息将在应用程序会议上讨论2021年逻辑
对应用材料
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应用材料' Endura®铜屏障种子IMS™系统
应用材料公司新推出的Endura®Copper Barrier Seed IMS™在一个高真空系统中结合了七种不同的工艺技术,以提高芯片性能和功耗。过程序列的动画可以在这里查看:https://bit.ly/3g8HMe1.
来源:Applied Materials, Inc。